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LED 与功率模块切片:金属间化合物层与焊点裂纹

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大功率 LED 和电源模块使用焊点不仅可以导电,还可以导热。这使得它们的焊点评估标准比传统元件更加严格:对于信号元件来说,不重要位置的空洞对于功率元件来说可能是一个严重的问题。

本文提供了有关读取 LED 和电源模块的焊锡层切片、评估金属间化合物层厚度、识别热循环引起的裂纹以及如何验证可靠性的说明。

1. 功率器件与普通器件有何不同?

因素 信号元件 功率元件
焊点的作用 导电 传导电力和热量
工作温度 低、稳定 高,随着开/关周期振荡
无效的影响 主要是机械耐久性 兼顾耐用性和散热性
金属间化合物层时效率 慢 由于长期高温,速度明显加快
主要缺陷类型 少锡、错位 由于热循环而开裂,厚金属间化合物层

2. 切片的四个特征

特点 正常体征 需要注意的标志
鞋底下焊接层 厚度稳定,均匀覆盖鞋底区域 局部较薄,有无锡区
金属间化合物层 薄的连续带材 异常厚、波状、不连续
虚空 空洞很小,分散 底座中心大空洞 — 热传导的主要场所
裂纹 否 裂纹平行于界面或穿过焊点层
显微镜下 LED 焊接部分显示散热器底座下方的锡层
对于功率元件,基板下焊锡层的质量决定了电力和热量。

3. 金属间化合物层随工作温度增厚

金属间化合物层在焊接后立即形成,并随着时间的推移继续生长,在高温下生长速度急剧增加。由于功率组件在高温下连续工作,该层在产品生命周期中会显着增厚。

阶段 金属间化合物层的状况 后果
焊接后立即 薄、连续 粘接性好、延展性高
中温工作后 慢慢变稠 灵活性逐渐降低,尚可接受
经过长时间的高温 很厚,可能呈波浪状 受到热循环或机械冲击时易碎且容易破裂
生命周期结束 金属间化合物层中可能存在微裂纹 热阻增加,结温增加,形成螺旋恶化

由于该过程发生在整个产品生命周期中,因此仅评估金属间化合物层的初始状态是不够的。结果需要放在实际工作条件的背景下。

沿界面有金属间化合物带的模块锡层的放大切片图
长期高温会使金属间化合物层增厚,导致脆性增加。

4. 与功率元件的空洞

空虚影响两种方式,而不仅仅是一种:

  1. 热线:空洞减小了热传导切片,导致热量在元件中积聚,并且结温高于设计。
  2. 机械路径:空洞是应力集中点,在热循环时成为裂纹开始的地方。

因此,在评估功率焊接层中的空洞时,有必要记录所有三个参数:面积比、最大空洞尺寸以及相对于主热路的空洞位置。主热路上的空洞比边缘处的空洞严重得多。

5. 常见错误及辨别方法

错误 切片上的标记 如何区分
由于热循环而破裂 裂纹平行于界面延伸,通常靠近焊点层边缘 热循环试验后出现,测试前样品中不存在
由于机械冲击而破裂 沿倾斜方向穿过焊层的裂纹 裂纹区域周围有撞击变形的痕迹
空洞浓度 比目鱼肌区域有大气泡 焊接后立即可用,不随热循环而增加
焊接层分层 两层锡之间或锡与焊盘之间的分离间隙 关于原始样品中存在的表面污染
包中的单独类 组件体内的间隙,不是焊点的一部分 观察元件本体区域而不是锡区域

重要规则:为了确认热循环引起的开裂,必须有未经测试的对照样品。如果没有背景图像,则不能排除预先存在裂缝的可能性。

6. 验证可靠性

  1. 选取热循环或热冲击:产生重复应力以揭示开裂倾向。
  2. 长时间选取高功率:评估金属间化合物层和空洞的演变。
  3. 测量结温或热阻:评估空洞对散热能力的实际影响。
  4. 在多个时间点切割样品:测试前、测试间和测试后查看进度。
LED 电路板的发光元件安装在实验室桌子上的金属散热器上
结合热量和切片测试是验证电源焊点可靠性的一种方法。

7. 常见问题

Void 对散热影响有多大?

没有通用阈值,因为它取决于散热器设计、功率和结温要求。该阈值应根据具体产品的热模型确定。

LED 灯坏了是焊点造成的吗?

不一定。这可能是由于发光层、内部连接线或焊点造成的。切片有助于准确确定哪个地板受损。

热循环后是否需要切割样品?

强烈推荐。这是确认裂纹是在测试过程中形成而不是预先存在的唯一方法。

金属间化合物层厚一定不好吗?

并非总是如此,但当超过一定水平时,脆性会增加,可靠性会降低。需要根据元件的实际工况进行评估。

电源模块是否需要穿越多个位置?

是的。切割应在高电流区域、靠近散热器的区域和边缘区域进行,因为热条件和机械条件明显不同。

八、结论

对于功率元件,焊点既是电导体又是热导体,这就是它随着时间的推移而老化的原因。需要监测的两个过程是金属间化合物层增厚和空洞进展 — 如果仅在初始状态下检查,这两个过程都很难检测到。

要做的四件事:将金属间化合物层评估放在实际工作温度的背景下;根据相对于热路的位置写入 void;始终有预测试样品作为对照;并将热循环试验与热阻测量相结合,以获取实际效果的证据。

参考资料

  • IPC-A-610 — 电子装配验收标准。
  • J-STD-001 — 电气焊接和电子组装的要求。
  • IPC-TM-650 方法 2.1.1 — 显微切片。
  • 制造商提供的有关热管理和电源组件可靠性的技术文档。

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