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从粗样到切片图像:镶嵌、研磨、抛光和腐蚀

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在切片中,显微镜只是记录结果的工具。决定图像是否具有结构性的是前面的四个步骤:切割、成型、研磨和抛光。不正确制备的样品可能会隐藏真正的缺陷,或产生不存在的虚假缺陷。

本文描述了每个步骤、每个步骤的典型错误、如何识别损伤的样品以及如何根据操作员的技能减少损伤的样品。

1. 样品制备流程和原则

  1. 切——将要测量的区域与细节分开。
  2. 镶嵌— 将图案固定在塑料模具中并保护切割边缘。
  3. 磨削— 将切片带到正确的平面上进行检查。
  4. 抛光— 去除划痕和表面变形层。
  5. 腐蚀— 增加结构对比度,仅在需要时使用。

交叉原则:每一步都必须进行足够的处理,以消除前一步的影响,但又不能处理得太多,以免丢失要检查的部分。。大多数样品制备错误都是违反了这一原则的两个方面之一。

2. 样品切割:控制热量和切割平面

因素 需要控制 如果你做错了
切割刀片 选择适合材料的磨料类型 研磨太热,烧边,使镀层变形
散热方案 流量充足,喷射方向正确 产生的热量使基础塑料软化并使焊点变形
切削速度 对于具有小焊点的样品,速度较慢;对于厚金属样品,速度较快 切口是斜角的,小细节丢失
夹紧方向 垂直于您要测量的轴 测量厚度大于实际厚度

样品因切割而损伤的迹象:烧伤切割边缘、沿刀片方向划伤金属层、塑性塑性变形。当看到这些迹象时,关于厚度的结论应保持谨慎。

气缸内装有小电路板模板的透明塑料模具热成型机
镶嵌有助于将图案固定到位并保护切割边缘 — 边缘最容易受到损伤。

3. 模制图案:将其固定到位并保护边缘

方法 特点 适合
热成型(热塑性塑料) 在热和压力条件下快速压制样品 金属样品、电路板、耐热零件良好
冷成型(双组分树脂) 无需加热,凝固时间更长 热敏样品:小焊点、塑料、软材料

成型步骤中常见的三种错误:塑料流入零件之间的间隙,导致样品边缘错误;样品在凝固过程中移动;收缩的塑料会在样品和塑料之间产生间隙 — 研磨时该间隙会吸引杂质并在图像中产生假条纹。

4. 研磨:将颗粒逐步降级

阶段 目的 需要前进的迹象
粗磨 展平并接近要检查的正确平面 整个断面平整,无切口残留
中磨 输入上一步中的大划痕 单向划痕
精磨 有点小划痕 表面哑光均匀,低倍看不到划痕

两个常见的错误:跳过一定的颗粒级别(导致端部残留较深的划痕)和沿单一方向研磨时间过长(导致表面不平整,一侧有斜角)。

5. 抛光:加工变形层

研磨会产生划痕,抛光会在表面上产生一层薄薄的变形。该层可以隐藏金属间化合物层等小细节,或者使电镀层看起来比实际更厚。

现象 常见原因 如何处理
彗星的轨迹不断延伸 在一种速度下抛光时间过长会导致硬件拖动 减少时间、改变方向、清洁织物
杂质粘附在条纹上 织物脏了,样品在步骤之间没有清洗 在步骤之间清洗并干燥样品
样品边缘呈圆形 压力太高或边缘抛光时间太长 减少用力,使用支架保持样品稳定
电镀看起来异常厚实 变形层包含在厚度内 用更细的砂砾再次抛光
抛光台配有新型砂轮和顶部样品架
忽略颗粒水平会留下划痕和变形层,从而掩盖真实结构。

6. 腐蚀:需要时和不需要时

腐蚀用于增加金属相之间或材料层之间的对比度。对于电路板和焊点,蚀刻通常用于突出晶界和金属间化合物层。

情况 应该腐蚀吗? 原因
测量镀层厚度 通常不会 通过光学对比,层边界足够清晰
评估焊点晶粒结构 是的 需要对比才能读取晶粒尺寸和形态
测量金属间化合物层 视情况而定 轻腐蚀有助于区分,强腐蚀可以溶解待测层
评估产品的腐蚀缺陷 否 腐蚀产物为证据,不应再做任何改动

安全原则:准备两个相同的样品,腐蚀一个样品,保持一个样品完好。如果腐蚀样品给出的结果有问题,则仍然需要测试对照样品。

7. 测量前样品已通过的五个标志

  1. 表面平坦,斜光下反射均匀。
  2. 在工作放大倍数下没有可见的划痕。
  3. 层与层之间的界限清晰且不模糊。
  4. 样品和模制树脂之间没有间隙。
  5. 需要测量的最小细节仍然完好无损,没有斜角或丢失的边缘。
用透明塑料镶嵌的模型固定在带有抛光布和分级砂纸的支架中
不均匀的切片将导致任何背面厚度测量不正确。

8. 常见问题

普通金属切割机可以用来切割样品吗?

不应该。传统切割机会产生巨大的热量和力,容易使小焊点和镀层变形,使测量结果不再可靠。

塑料或软材料样品可以用作切片吗?

可以,但应使用冷铸件和更细的磨料。软材料容易产生倒角,因此需要减小力并缩短每一步所用的时间。

手工抛光效果是否足够好?

出于筛选目的,这是可能的。为了测量厚度或分析金属间化合物层,应使用具有力和速度控制的设备来减少测量之间的误差。

样品需要多长时间氧化并需要重新制备?

取决于材料和储存条件。对于铜样品或具有薄涂层的样品,应在抛光后立即进行测量,并保存在带有除湿器的密封容器中。

有什么办法可以缩小两个技术人员之间的差距吗?

是:使用固定参数标准化分步过程,使用相同的材料,并定期让两个人从同一部件制备平行样品进行比较。

9. 结论

切片图像的质量是在样品制备的四个步骤中决定的,而不是在显微镜中决定的。每个步骤都有一个特有的错误模式,每个错误模式都会在图像上留下可识别的标记。

要做的四件事:控制切割步骤中的热量和冷却液;根据样品的热敏感性选择热铸或冷铸;按正确的顺序降级磨料;并保留未腐蚀的样品作为对照。

参考资料

  • IPC-TM-650 方法 2.1.1 — 显微切片、样品制备步骤。
  • ASTM E3 — 金相样品制备指南。
  • ASTM E407 — 金属和合金的腐蚀。
  • IPC-A-600 和 IPC-6012 — 与电路板切片相关的技术标准和要求。

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